X一射线荧光分析仪
X一射线荧光分析仪(XRF)是一种较新型的可以对多元众进行快速同时侧定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X一荧光).波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理I.波长色徽型X射线荧光光诺仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探侧移接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控侧作同步运动.不断地改变衍射角.便可获得祥品内各种无索所产生的特征X射线的波长及各个彼长X射线的强度.可以据此进行定性分析和定I分析.
X射线荧光光谱仪应用领域
专为粉未冶炼行业研发的一款高1端设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、磁性材料、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
手提式X射线荧光光谱仪
性能优势:
1.直接测定*制样
野外分析*制备样品,可直接在待测物表面进行测定,可分析任何样品类型,ROHS检测仪,包括电子电器产品、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
2.高清摄像头检测更加精准
内置高清晰摄像头,可以随时观察被测样品的测试位置,这一点情况在RoHS、地矿样品中犹为重要。
3.偏差校正轻松到位
多种测试模式设置及无限数目模式的自由添加,配合自动测试模式匹配功能,实现一键式轻松测试。内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。